标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命

标准编号：GB/T 4937.23-2023

资源类别：国家标准

实施日期：2023 年 12 月 1 日

附件大小：4.05 MB

GB/T 4937.23-2023标准简介：

本文件描述了随时间的推移，偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作，主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼，可用于筛选试验中剔除早期失效产品。本文件未规定老炼的详细要求和应用。