标准名称:微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法
标准编号:GB/T 43883-2024
资源类别:国家标准
实施日期:2024 年 11 月 1 日
GB/T 43883-2024标准简介:
本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜( TEM/STEM ) 技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。
本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约 1/3 以下,且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行,其他晶体材料可参照执行。
本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。